Unité d’analyse élémentaire par laser
Série EA-300
Unité d’analyse élémentaire par laser Série EA-300
Observer et identifier les matériaux en instantané
- Analyse élémentaire en un clic
- Placez et mesurez sans préparation
- Détection facile des substances accessible à tout utilisateur
Présentation d’une tête d’analyse élémentaire associable aux microscopes Série VHX. Il vous suffit de placer la cible sur la platine pour analyser les éléments sans destruction, dépôt ni vide. Les suggestions basées sur l’IA mettent l’analyse élémentaire de n'importe quelle substance à la portée de tout utilisateur.
Caractéristiques
Identifiez toute substance directement sur votre microscope
Il suffit de placer et d’analyser
L’analyse élémentaire s’exécute d’un simple clic. Passez de l’observation sous grossissement à l’analyse élémentaire sans avoir à manipuler l’objectif laser ni ajuster la mise au point.
Placez et mesurez sans préparation
Exécutez une analyse sans altération ni destruction sur des cibles de toutes dimensions.
Aucune mesure de conductivité ni aucun vide n’est requis.
Détection facile des substances accessible à tout utilisateur
Les éléments détectés sont analysés.
La substance la plus probable est rapidement suggérée.
Une fonction d’IA intégrée vous suggère la nature la plus probable du matériau analysé.
La base de données peut également servir à collecter les résultats des analyses précédemment réalisées en interne, de sorte à pouvoir vous y référer lorsque des corps étrangers similaires sont détectés.